• 项目背景:该项目旨在开发一套系统,用于对芯片引脚进行测量,包括引脚的长度、宽度和相互之间的距离。这项技术对于芯片制造过程中的质量控制和性能评估具有重要意义。
• 角色与职责:
o 领导测量系统开发:担任项目负责人,负责制定项目计划和任务分配。领导团队开发测量系统,并确保系统符合需求和规范。
o 图像处理与测量算法设计:负责设计和实现图像处理算法,包括边缘检测、ROI定义和测量。利用HALCON工具实现对芯片引脚的测量。
o 系统集成与优化:与团队合作,将图像处理算法集成到测量系统中,并对系统进行优化,以提高测量精度和效率。
o 结果可视化与报告生成:开发结果可视化模块,通过图形界面展示测量结果,并生成报告用于数据分析和决策支持。
• 项目成果:
o 成功开发了一套完整的芯片引脚测量系统,实现了对引脚长度、宽度和间距的准确测量。
o 提高了测量系统的稳定性和可靠性,确保了测量结果的准确性和一致性,为芯片制造过程提供了可靠的质量控制手段。
o 开发了直观友好的图形界面,便于用户操作和结果查看,提高了系统的易用性和用户体验