OneTest项目是公司最核心的产品,使用场景为内嵌在测试机上,通过各种仪器的
Session控制仪器对DUT进行测试,OneTest既可以覆盖实验室环境下的芯片的产前
设计测试,也可以支持芯片FT阶段的封装测试,同时支持应用工程师在测试软件上进行测试程序的编写和执行,很大程度上可以解放芯片测试工程师的双手,提升
了芯片研发的自动化程度。
业绩:
1.采用WPF技术,MVVM的框架,完成了OneTest的界面设计和前端框架的设计。
2.使用设计模式中的组合模式,采用流程控制节点(条件节点,循环节点,扫描循
环节点)和内容执行节点,完成后端Testflow执行流程(用户测试程序的编排)的设计
与实现。(类似一个树形数据结构的叶子结点的执行遍历,包含辅助功能比如断点
调试,剪头指向,节点拖携等功能)。
3.采用前后分离的技术(WPF的前端进程和.netframework实现的后端进程)和grpC
协议,完成grpc接口的设计管理和实现。
4.内存泄露问题的分析解决。
5.采用DDD的思想,完成OneTest彻底重构,提升了代码质量。